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產(chǎn)品中心
可靠性測試設(shè)備
功率循環(huán)設(shè)備
功率循環(huán)測試
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
(PC3000C)
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)(PC3000C)
該系統(tǒng)適用于各種尺寸的IGBT模塊的功率循環(huán)試驗,且運(yùn)用先進(jìn)的JEDEC靜態(tài)測試方法(JESD51-1)。 通過改變電子器件的輸入功率,使得器件產(chǎn)生溫度變化。變化過程中,通過測試芯片的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線,并對測試波形進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,得到該電子器件的全面熱特性。
功能
- 支持分鐘級/秒級功率循環(huán)測試
- 搭載油冷平臺,可快速自動校準(zhǔn)被測器件的K系數(shù)
- 夾具支持可調(diào)力度及深度,可對不同封裝的模塊進(jìn)行有效的夾固
- 具備電磁水閥,可根據(jù)實際情況自動調(diào)整冷卻水流,亦可手動調(diào)整
- 通過測試器件的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線,對測試波形進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,得到該電子器件的全面特性
- 充分的實驗員人體安全考慮設(shè)定
產(chǎn)品特性
試驗溫區(qū) | 3個 |
試驗溫度 | 水冷板:+10℃℃~+80℃ |
老化試驗區(qū) | 3區(qū) |
恒溫系統(tǒng)控制精度 | 水冷系統(tǒng)為+0.5℃ |
結(jié)溫測試精度 | ±2℃ |
冷板及殼溫測試精度 | ±2℃ |
加熱電流 | 600A/區(qū)(支持三區(qū)并聯(lián)1800C) |
測試電流 | ±(10~1000mA) |
測試電流精度及分辨率 | ±(0.3%+2mA),分辨率0.1mA |
整機(jī)供電 | 三相AC380V+38V |
整機(jī)功率 | 30KW(典型) |
整機(jī)重量 | 500Kg(典型) |
整機(jī)尺寸(不含水冷機(jī)) | 1900mm(w)x900mm(D) x1300mm(H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
JESD51 AQG324
適用器件
適用于各種尺寸的IGBT模塊和MOS模塊