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產品導航
當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 微波器件老化試驗 微波功率器件直流老化 微波管高溫靜態工作老化測試系統 (MFS2004)

微波管高溫靜態工作老化測試系統(MFS2004)

該系統共配置12個獨立工作的試驗區,每個試驗區具備4路器件老化工位,整機共48個器件老化工位,12個試驗區可通過上位機實現獨立或同時控制、監測、記錄、通訊。每個工位可以獨立控制被測器件的殼溫,檢測精度達1%±2℃。實時監測老化過程中被測器件的各項參數并進行記錄,采用技術先進的可調穩壓大功率二次電源。

功能
  • 實時監測被測器件的電流、電壓狀態,自動調整被測器件的電流
  • 可獨立控制被測器件的殼溫,精度達1%±2℃
  • 可適配不同封裝、功率要求的微波功率器件
產品特性

試驗溫區

12個

試驗溫度

70~200℃

老化試驗區

12區

漏極電壓控制范圍

0.01~60V

漏極電壓控制精度

±(1%+0.1V)

柵極電壓控制范圍

-10~10V

柵極電壓控制精度

±(1%+0.01V)

漏極電流檢測范圍

0~5A

漏極電流檢測精度

±(1%+1mA)

柵極電流檢測范圍

0~50mA

柵極電流檢測精度

±(1%+0.01mA)

殼溫波動度

±1℃

殼溫檢測精度

±(1%+2℃)

電源

0~60V/40A(12路可選配)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

25KW(典型)

整機重量

1000KG(典型)

整機尺寸

1800mm(W)×1300mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB128 MIL-STD-750 MIL-M-19500

適用器件

適用于GaN、GaAs等微波管