點擊咨詢產品電容器高溫老化測試系統(tǒng)(MKP2005)
該系統(tǒng)可進行室溫+10℃~200℃的電容器老化篩選試驗，提供高達4500V的老化電壓，老化過程中實時監(jiān)測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài)，對超限器件進行保護剔除，并根據需要記錄老化數據，導出試驗報表。
功能
- nA級別的漏電流檢測精度
- 整機30s的全工位數據刷新
- 獨特高壓抑制電路，器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
- 獨特的自動充放電回路設計
- 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性
試驗溫區(qū) | 1個 |
試驗溫度 | 室溫+10~200℃ |
老化試驗區(qū) | 16區(qū)(16/32/40/48區(qū)可選) |
單區(qū)工位數 | 24(典型) |
老化電壓范圍 | 500~4500V |
電壓檢測精度 | ±(1%+2LSB) |
電流檢測范圍 | 10nA~1000uA |
電流檢測精度 | ±(1%+10nA) |
整機供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整機重量 | 680KG(典型) |
整機尺寸 | 1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H) |
適用標準
GJB360 MIL-STD-202E
適用器件
適用于片式陶瓷電容器（MLCC）、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等