【再創(chuàng)佳績】浙江杭可儀器有限公司獲得“首臺套”證書!
為深入貫徹省委、省政府關(guān)于制造業(yè)首臺(套)提升工程的有關(guān)要求,省經(jīng)信廳牽頭組織了2023年度首臺(套)產(chǎn)品認(rèn)定工作,確定2023年度浙江省首臺(套)裝備292項。
浙江杭可儀器有限公司的LSIC7000 超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)在本次認(rèn)定工作中成功入選,該系統(tǒng)憑借其創(chuàng)新性和技術(shù)領(lǐng)先性,在集成電路老化測試領(lǐng)域取得了重大突破。這一認(rèn)定不僅是對浙江杭可儀器有限公司的認(rèn)可,更是對浙江省制造業(yè)創(chuàng)新能力和技術(shù)水平的肯定。
1. 主要功能
支持對FPGA、ARM、DSP、GPU、CPU、AI芯片等超大規(guī)模集成電路的壽命評估實驗、車規(guī)級芯片出廠老化測試、二篩服務(wù)。試驗溫度是室溫+10℃至+150℃ 范圍內(nèi)的HTOL老化測試,允許實時監(jiān)測與對比,并支持still向量文件導(dǎo)入設(shè)備運行。
2. 產(chǎn)品優(yōu)勢
TDBl(老化中測試) 技術(shù),支持實時監(jiān)測元件輸出信號。
支持芯片運行BIST測試和SCAN測試。
兼容美國MCC與韓國DI公司的LOGIC老化設(shè)備向量,便于客戶遷移測試向量。
采用硬公制高速連接器,大幅提高測試信號完整性。
采用專用大電流連接器,可靠性、穩(wěn)定性高。
3. 重要性及必要性
新能源汽車、國內(nèi)軍工芯片的國產(chǎn)化替代導(dǎo)致半導(dǎo)體老化設(shè)備需求在快速增加。
中美貿(mào)易摩擦推動國內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)自主可控進程。
LSIC7000超大規(guī)模集成電路老化系統(tǒng)可完全代替進口設(shè)備,全面實現(xiàn)國產(chǎn)化,為超大規(guī)模集成電路器件壽命評估、老化測試提供可靠的工藝設(shè)備保障。
4.技術(shù)指標(biāo)
我們有信心,浙江杭可儀器有限公司將以卓越的業(yè)績,成為行業(yè)的領(lǐng)軍企業(yè),為社會的發(fā)展做出更大的貢獻(xiàn)。